協立テストシステム

目次

協立テストシステムの特徴

引用元HP：協立テストシステム公式HP
http://www.testsystem.co.jp/jp/

半導体基板検査機器の開発からメンテナンスまで

協立テストシステムは2000年に設立された半導体基板検査機器のメーカーです。開発から製造、販売、メンテナンスまで一貫して行っており、テストテクノロジーをリードする高い技術も有しています。

基板を動作させずにそれぞれの部品の特性を電気的に検査するインサーキットテスターや、基板の入出力の電気的動作を確認するファンクションテストシステムなどが代表的な検査機器です。

ベースマシンからニーズに合わせた提案

協立テストシステムでは、実装基板製造工程の検査機器を各種取り揃えています。コンビネーションテスター、インライン型全自動検査装置、電動プレスユニット、バーンインボードテスター、オンボードプログラミング装置、3次元自動外観検査装置など、各工程ごとにベースマシンを用意しています。

ベースマシンから顧客の生産ラインやニーズに合わせた提案をしています。

国内外に多くの拠点

国内に14ヶ所（2024年2月時点）、海外には中国やマレーシア、タイなどの東南アジアをはじめ、アメリカやカナダ、ブラジルにも拠点があります。

各拠点を最適に活用することで、顧客のニーズに迅速に対応でき、多様な提案が可能です。また災害などでどこかの拠点が停止しても、他の拠点でカバーできるのも強みです。

協立テストシステムの主要製品

X線自動検査装置　V810 S2EX

画像引用元：協立テストシステム公式HP
http://www.testsystem.co.jp/jp/products/v810s2ex.html

製品の特徴

• フォーカス領域のカスタマイズなど容易なプログラミング
• 独自のハイブリッドオートフォーカス技術
• イメージエンハンスメント機能
• 20種類以上のジョイントタイプアルゴリズムを提供

その他協立テストシステム取り扱っている製品

Focus-2000 Plus

計測部とPC部を分離した構成を持つプレス一体型インサーキットテスターです。PC部には、長時間の安定稼働を考慮し、産業用パソコン（FAパソコン）が採用されています。この分離構造により、機能性とメンテナンス性が向上しました。万が一の故障時にもPC部のみを修理・交換できるため、スムーズなサポート対応が可能です。通信速度や処理速度のばらつきが少なく、安定した検査環境を提供します。

ファンクションテストシステム

汎用性を考慮して設計されています。検査対象の機種が変更された場合でも、テストフィクスチャーと検査プログラムを入れ替えることで対応が可能です。システムは、提供元のFXシリーズモジュールだけでなく、市販されている測定機器を組み込んで制御することもできます。

各機能モジュールはUSBで接続される構造のため、導入後に検査仕様の追加や変更が生じた際にも、モジュールを増設することで容易に拡張が可能です。

コンビネーションテスター Focus-4000

1台の装置で複数の検査を組み合わせられる点が特徴です。例えば、インサーキットテスト（ICT）の後に続けてファンクションテスト（FCT）を実行したり、FCTとフラッシュROMへの書き込みを連続して行ったりすることが可能です。フィクスチャー治具もICTとFCTで兼用できるため、生産設備の省スペース化や工程の効率化に貢献します。

Function検査モジュール FX Series

5インチベイサイズで設計された専用モジュールです。操作はパソコンから行い、接続にはUSBケーブルを使用します。この製品シリーズは、デジタルIOモジュールやリレーモジュールなど、最大16台までのモジュールを連結して拡張できる点が特徴。

多様な検査要件に対応する柔軟なシステムを構築できます。複数のモジュールを組み合わせたファンクション検査機として利用する場合、専用のソフトウェア「FX-Builder」を用いることで、システム環境の構築をスムーズに進めることが可能です。

インライン型全自動テスター ALMAX

基板搬送ベルトを備えた全自動のプレスユニットです。内部に組み込むテスターの種類を選択できる点が特徴。機構の制御はテスター用のパソコンから直接行う設計のため、別途PLC（プログラマブルロジックコントローラ）などを準備する必要がなく、システム構成の簡素化に貢献します。

検査の安定性を高めるため、プレスユニットには4軸構造を採用しています。基板を押さえる際に発生しやすい偏った荷重を軽減する効果が期待でき、検査対象の基板全体に均等な圧力がかかりやすくなります。

IC・BGAテスター

インサーキットテスター技術を用いた検査装置です。主な用途として、市場から戻ってきたIC/LSIの不良解析前に、静電破壊などの不良デバイスを選別するスクリーニング・チェッカーとして活用できます。

半導体を取り扱う企業が高価なテスターで受入検査を行う前に、品質の低いデバイスを事前に選別するためにも使用されます。半導体センサーデバイスのショートやオープンをチェックする用途にも対応しています。

バーンインボードテスター Focus-275

インサーキットテスターの技術を基に開発された、バーンインボード検査用のテスターです。半導体検査工程のバーンインテストで使用するボードは、定期的な検査が求められます。このテスターを用いてボードの状態を確認することで、バーンインボードの信頼性向上に貢献します。

検査は、専用のソケットコンタクターとボードのエッジ部分に電気信号を流して行います。回路のショート（短絡）やオープン（断線）を検出するテストが可能です。

電動プレスユニット

効率的な検査工程とコスト削減を実現するために設計された、高機能な装置です。エアコンプレッサーは不要で、商用のコンセント電源だけで稼働させることができます。

電動シリンダの採用により、0.2mm単位でプレス高さを設定可能です。国内外のさまざまなメーカーの治具（フィクスチャー）が持つピンの高さのバラつきにも柔軟に対応します。

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